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003信息工程學院自命題考試大綱

科目名稱數(shù)據(jù)結構科目代碼811

一、考試范圍及要點

1.數(shù)據(jù)結構的基本概念

數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)元素與數(shù)據(jù)項的概念及其相互間關系，清楚數(shù)據(jù)的邏輯結構、存儲結構的聯(lián)系與區(qū)別，理解抽象數(shù)據(jù)類型的概念，掌握算法的時間性能分析和空間性能分析方法。要點是分析算法的時間和空間性能。

2.線性表

線性表的基本概念、線性表的順序?qū)崿F(xiàn)、線性表的鏈式實現(xiàn)、線性表順序?qū)崿F(xiàn)與鏈式實現(xiàn)的異同。要點是線性表的順序結構與線性表的鏈式結構的插入、刪除和按關鍵字查找的算法實現(xiàn)。

3.棧與隊列

棧與隊列的概念與基本操作，棧的應用，鏈隊列與循環(huán)隊列的組織方法。要點是棧的基本操作、鏈隊列與循環(huán)隊列的組織方法與基本操作的實現(xiàn)。

4.串

串的概念與串的表示和實現(xiàn)。要點是以堆形式實現(xiàn)的串的組織方法與基本操作的實現(xiàn)、模式匹配算法。

5.數(shù)組與廣義表

多維數(shù)組的結構特點及其存儲地址計算方法，矩陣的壓縮存儲思想，廣義表及其存儲結構。要點是數(shù)組的存儲地址計算、矩陣壓縮存儲地址映射關系及廣義表的邏輯結構與存儲結構。

6.樹與二叉樹

樹的基本概念，二叉樹的定義與性質(zhì)，二叉樹的存儲結構，二叉樹的遍歷算法，樹和森林的基本概念與哈夫曼樹等。要點是二叉樹的順序存儲結構與鏈式存儲結構，二叉樹的遍歷算法與哈夫曼編碼。

7.圖

圖的基本概念，圖的兩種存儲結構(鄰接矩陣和鄰接表)的表示方法，圖的遍歷算法，圖的最小生成樹的概念及相關算法，拓撲排序與關健路徑。要點是圖的存儲結構與圖的遍歷算法，最小生成樹的概念及相關算法，圖的拓撲排序算法。

8.查找

查找的基本概念，靜態(tài)查找表的實現(xiàn)，二叉排序樹的概念及查找，哈希表的思想及相關算法。要點是折半查找、二叉排序樹與哈希表。

9.排序

排序的基本概念，插入排序，交換排序，選擇排序，歸并排序與基數(shù)排序。要點是快速排序、堆排序與歸并排序算法實現(xiàn)與性能分析。

二、考試形式及試卷結構

考試形式：

閉卷筆試

試卷結構：

1.單項選擇題; 2.簡答與計算題

參考書目：

數(shù)據(jù)結構(C語言版)，嚴蔚敏 吳偉民編著，清華大學出版社，2012

數(shù)據(jù)結構習題與解析，李春葆編著，清華大學出版社，2013

科目名稱模擬電子技術科目代碼809

一、考試范圍及要點

1、常用半導體器件

(1)掌握PN結單向?qū)щ娦�、二極管的伏安特性及主要技術指標。掌握穩(wěn)壓管、二極管簡單應用。

(2)掌握晶體管的輸入特性和輸出特性、主要參數(shù)。

(3)掌握絕緣柵型場效應管的轉移特性、輸出特性及主要參數(shù)。

2、放大電路基礎

(1)掌握放大電路的組成原則、工作原理及特點。

(2)掌握三種基本接法放大電路的分析，能夠正確估算基本放大電路的靜態(tài)工作點和動態(tài)參數(shù)AU 、Ri 、R。，正確分析電路的輸出波形和產(chǎn)生截止失真、飽和失真的原因。

(3)掌握放大電路穩(wěn)定靜態(tài)工作點的必要性及穩(wěn)定方法。

3、多級放大電路

(1)掌握多級放大電路AU 、Ri 、R。的估算方法。

(2)掌握雙端輸入差動放大電路的靜態(tài)工作點和放大倍數(shù)的計算方法。

(3)掌握集成運放的主要參數(shù)和使用注意事項，能根據(jù)設計需要合理選擇集成運放。

4、放大電路中的反饋

(1)掌握反饋的基本概念和反饋性質(zhì)的判斷方法。

(2)掌握深負反饋條件下電壓放大倍數(shù)的估算。

(3)能夠根據(jù)需要在放大電路中引入合適的交流負反饋。

5、信號的運算和處理

(1)掌握比例、加減、積分、微分等基本運算電路的運算關系分析與估算。

(2)掌握各種濾波電路的工作原理、主要性能分析，能根據(jù)需要合理選擇濾波電路。

6、波形的發(fā)生和信號的轉換

(1)根據(jù)相位平衡條件判斷正弦波振蕩電路能否振蕩，估算振蕩頻率。

(2)掌握波形變換電路的工作原理，會分析傳輸特性，會繪制傳輸特性曲線。

7、功率放大電路

(1)能估算OCL功率放大電路的輸出功率。

(2)掌握功率放大電路半導體器件的選擇方法。

8、放大電路的頻率響應

(1)掌握放大電路的上限頻率、下限頻率、通頻帶、增益帶寬積和波特圖等概念。

(2)掌握放大電路頻率響應特性的分析方法。

二、考試形式及試卷結構

考試形式：閉卷筆試

試卷結構：

1、簡答題

2、分析計算題

3、分析設計題

參考書目：

模擬電子技術基礎，童詩白、華成英主編，高等教育出版社，2006年第四版

科目名稱信號與系統(tǒng)科目代碼810

一、考試范圍及要點

1、 信號的時域分析：連續(xù)、離散信號的描述;信號的基本運算;典型的連續(xù)、離散時間信號;沖激信號的定義及性質(zhì)。要點是信號的運算、沖激信號的性質(zhì)。

2、 系統(tǒng)的時域分析：連續(xù)、離散LTI系統(tǒng)的數(shù)學模型(微分、差分方程，方框圖);線性時不變系統(tǒng)的基本性質(zhì);卷積(和)的定義、性質(zhì)、計算及應用。要點是LTI系統(tǒng)的數(shù)學模型、卷積計算。

3、 傅里葉變換及應用：周期信號的傅里葉級數(shù)分析原理及物理意義;信號頻譜的概念;傅里葉變換的定義、基本性質(zhì);常用信號的傅里葉正、反變換;周期信號傅里葉變換的方法;時域抽樣及抽樣定理;理想抽樣信號的頻譜;傅里葉變換在通信系統(tǒng)的基本應用問題分析。要點是信號頻譜的概念、傅里葉變換的主要性質(zhì)、信號的時頻對應關系、信號的抽樣、理想低通及帶通濾波器、調(diào)制與解調(diào)原理。

4、 拉普拉斯變換及連續(xù)時間系統(tǒng)s域分析：拉普拉斯變換的定義和基本性質(zhì);一些常用信號的拉氏正、反變換;利用拉氏變換計算連續(xù)時間系統(tǒng)的完全響應;s域系統(tǒng)函數(shù)的定義及作用;系統(tǒng)函數(shù)的零、極點分布與時域特性、頻域特性的關系;系統(tǒng)頻率響應及應用;因果系統(tǒng)穩(wěn)定性判斷方法。要點是系統(tǒng)函數(shù)的定義與應用、因果系統(tǒng)穩(wěn)定性判斷。

5、 Z變換及離散系統(tǒng)的Z域分析：z變換的定義、性質(zhì);z變換的收斂域;逆z變換;典型序列的z變換的計算;利用z變換解差分方程;系統(tǒng)函數(shù)H(z)的定義及計算;離散系統(tǒng)頻率特性H(jω)的定義及應用。要點是z變換的定義、性質(zhì)、收斂域;逆z變換 ;離散系統(tǒng)的系統(tǒng)函數(shù)H(z)。

二、考試形式及試卷結構

考試形式：閉卷考試

試卷結構：⑴填空題 ⑵計算題 ⑶綜合分析題

參考書目

信號與系統(tǒng)(第三版)，鄭君里等編著，高等教育出版社。

科目名稱光電子技術科目代碼812

一、考試范圍及要點

考試范圍：

(一) 光輻射與發(fā)光源

輻射度學和光度學，激光原理及典型激光器

(二)光輻射的傳播

光波在大氣、電光晶體、聲光晶體、磁光晶體、光纖波導中的傳播特性，大氣衰減，大氣湍流，半波電壓

(三)光束的調(diào)制和掃描

光束調(diào)制原理，電光調(diào)制、聲光調(diào)制、磁光調(diào)制和直接調(diào)制，光束掃描的原理，機械掃描、聲光掃描、電光掃描;空間調(diào)制器的原理、特點和應用

(四)光輻射的探測技術

光電探測器的物理效應，包括光電導效應、光伏效應、溫差電效應、熱釋電效應;光電轉換定律，光電探測器的基本特性和性能參數(shù);光伏探測器的工作模式，直接探測法和外差探測法

(五)光電成像系統(tǒng)

固體攝像器件的基本原理、特性參數(shù)，光電成像系統(tǒng)的基本結構及紅外成像系統(tǒng)的綜合特性評價;固體攝像器件的特性參數(shù)、紅外成像光學系統(tǒng)的基本原理;固體攝像器件的發(fā)展水平及微光像增強器件的基本原理

(六)顯示技術

液晶顯示及等離子體顯示的基本原理和典型結構;電致發(fā)光顯示;其它顯示技術

考試要求:

(一)光輻射與發(fā)光源(10%)

掌握激光產(chǎn)生的原理并且了解典型激光器的結構和特點，了解輻射度學和光度學。

(二)光輻射的傳播(20%)

掌握光波在大氣的傳播特性，理解大氣對激光傳播造成的影響;掌握光波在電光晶體(包括KDP晶體和LiNbO3晶體)中的傳播特性，會運用折射率橢球方法分析線性電光效應;掌握拉曼-納斯衍射和布喇格衍射的原理和特性;了解法拉第旋光效應，弱導條件，光纖色散、帶寬等概念。

(三)光束的調(diào)制和掃描(20%)

理解光束的調(diào)制原理，掌握縱向電光強度調(diào)制的原理和線性電光調(diào)制的實現(xiàn)方法;掌握聲光調(diào)制器的工作原理，理解調(diào)制帶寬的概念;了解磁光調(diào)制，直接調(diào)制的原理、實現(xiàn)方法、特點及應用;了解機械掃描、聲光掃描、電光掃描和空間調(diào)制器。

(四)光輻射的探測技術(20%)

掌握光電探測器的物理效應和典型光電器件，包括光敏電阻、硅光電池和發(fā)光二極發(fā)管的工作原理和工作特性;理解光伏探測器的工作模式，了解直接探測法和外差探測法。

(五)光電成像系統(tǒng)(20%)

掌握固體攝像器件的基本原理、能比較分析CCD和CMOS的工作原理和優(yōu)缺點;了解紅外成像光學系統(tǒng)的基本原理和典型的紅外成像光學系統(tǒng);掌握光電成像系統(tǒng)的綜合特性評價，理解調(diào)制傳遞函數(shù)及噪聲等效溫差的概念;理解微光像增強器件和紅外成像器件工作原理的差異。

(六)顯示技術(10%)

掌握液晶顯示及等離子體顯示的基本原理和典型結構，掌握液晶的光電特性，了解電致發(fā)光顯示及其它顯示技術。

二、考試形式及試卷結構

閉卷筆試，考試時間180分鐘;選擇題(20%)、填空題(20%)、解答題(30%)、綜合題(包括計算，推導等30%)。

參考書目：《光電子技術》第三版，安毓英等編，電子工業(yè)出版社